M04 Desktop Scanning Electron Microscope (Desktop SEM)

หลักการ

 

หลักการ

             กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้ electron เป็นแหล่งกำเนิดแสง เป็นเครื่องมือที่ใช้ศึกษาลักษณะสัณฐานของตัวอย่างวัสดุ หรือตัวอย่างทางชีวภาพในระดับจุลภาค ที่แสดงออกมาเป็นภาพ 3 มิติ ที่มีรายละเอียดที่เล็กมาก สามารถแจกแจงรายละเอียดของภาพ ได้ตั้งแต่ 3 ถึง 100 นาโนเมตร อีกทั้งยังสามารถใช้งานร่วมกับเทคนิคการวิเคราะห์อื่น เช่น Energy Dispersive Spectrometry (EDS) ซึ่งสามารถวิเคราะห์องค์ประกอบของธาตุในตัวอย่างที่ใช้ในการวิเคราะห์ได้ จึงทำให้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเป็นที่นิยมใช้กันอย่างกว้างขวางในปัจจุบัน

หลักการทำงานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด  

             กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด จะประกอบด้วยภายในคอลัมน์ (column) ของเครื่องจะมีแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน (electron gun) ซึ่งทำหน้าที่ปลดปล่อยอิเล็กตรอนออกมา (primary electron) ซึ่งจะควบคุมจำนวนอิเล็กตรอนนั้นด้วยศักย์ไฟฟ้าสูง ๆ (high voltage) และใช้เลนส์แม่เหล็กไฟฟ้า (electromagnetic lens) โฟกัสให้อิเล็กตรอนนั้นตกกระทบชิ้นงาน และเมื่ออิเล็กตรอนตกกระทบชิ้นงานจะเกิดอันตรกริยา (interaction) ได้สัญญาณแบบต่าง ๆ เช่น สัญญาณจากอิเล็กตรอนในชิ้นงานที่หลุดออกมา (secondary electron) อิเล็กตรอนที่กระดอนกลับ (bacscattered electron) หรือ x-ray สัญญาณแต่ละชนิดจะถูกจับโดย detector และแปลผลเป็นสัญญาณทางไฟฟ้า และแปลเป็นภาพในที่สุด

Desktop Scanning Electron Microscopes (MiniSEM) ยี่ห้อ SEC รุ่น SNE-4500M 

        SNE-4500M is focused on two essentials: powerful performance and user-friendly environment. Even with the table-top configuration, SNE-4500M provides high-quality SEM images with the ease of use. No doubt about strong performance and flexible integration - full stroke control including tilt and rotation, optional EDX system and many other tools for your application. Mini-SEM can easily magnify up to 100,000x with variable (5kV to 30kV) accelerating voltage in seconds. Auto-focus, Auto-brightness and contrast produce an excellent image every time.

Key specifications

Magnification up to 100,000x (Digital zoom 4x)
Variable accelerating voltage from 5kV to 30kV (5steps)
Detector: SE detector / BSE detector (optional)
4-hole variable aperture (200um, 100um, 50um, 30um)
5-axis manipulator including tilt-axis control

  • X,Y-axis: 40mm / R-axis: 360°

สถานที่ตั้ง

อาคาร SC.07 ห้อง 7102 คณะวิทยาศาสตร์ (ห้องศูนย์เครื่องมือวิจัย มหาวิทยาลัยขอนแก่น)

เจ้าหน้าที่ผู้ดูแล/ติดต่อขอใช้บริการ

  • วัฒนา สวดประโคน โทรศัพท์ : 086-6721550 อีเมล : watsua@kku.ac.th
  • อัตราค่าบริการ

    ชื่อรายการ อัตรา 1 อัตรา 2 อัตรา 3 หน่วย
    ถ่ายภาพด้วย SEM 400 800 1,200 *ชั่วโมง
    การวิเคราะห์ธาตุด้วย EDX 400 800 1,200 *ชั่วโมง
    การฉาบผิวตัวอย่างด้วยทองคำ 200 400 600 *ครั้ง
    ค่า Stub 30 40 50 *อัน

    ปฏิทินการใช้งาน