หลักการ

     เป็นเทคนิคที่ฉายแสงที่มีค่าพลังงานหรือความยาวคลื่นค่าเดียวในย่านของรังสีเอกซ์ (X-ray) จากปืนรังสีเอกซ์ หรือแสงซินโครตรอนลงบนพื้นผิวของตัวอย่างที่ต้องการวิเคราะห์ภายในระบบสุญญากาศ แล้วทำการตรวจจับและวัดค่าพลังงานจลน์ของอิเล็กตรอนที่ถูกกระตุ้นให้หลุดออกมาเนื่องจากปรากฏการณ์โฟโตอิเล็กตริก (Photoelectric Effect) โดยจะวิเคราะห์ค่าพลังงานยึดเหนี่ยวของอิเล็กตรอนชั้นในสุด (core electron) เนื่องจากเป็นค่าเฉพาะของอะตอมในแต่ละธาตุและยังขึ้นอยู่กับสถานะทางเคมีของอะตอมนั้น การวิเคราะห์ดังกล่าวจึงสามารถระบุชนิดและสถานะทางเคมีของธาตุที่เป็นองค์ประกอบบริเวณพื้นผิวของตัวอย่างที่ต้องการวิเคราะห์ได้ เทคนิค XPS สามารถประยุกต์ใช้กับพื้นผิววัสดุหลากหลายชนิด เช่น โลหะ สารกึ่งตัวนำ เซรามิกส์ แก้ว ฟัน กระดูก ผ้า ฯลฯ

ข้อมูลจำเพาะของเครื่อง
- ยี่ห้อ Kratos รุ่น AXIS Supra+
- Monochromatic X-ray Source 2 ชนิด คือ Al Kα (Photon energy เท่ากับ 1486.6 eV) และ Ag Lα (Photon energy เท่ากับ 2984.3 eV)
- การวิเคราะห์พื้นผิววัสดุด้วยเทคนิค XPS จะได้ข้อมูล Survey Spectrum เพื่อดูภาพรวมบนพื้นผิว, High resolution scan เพื่อดูพันธะทางเคมี และ Quantification report ในการวิเคราะห์ตัวอย่าง
- Ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS) พลังงานโฟตอนของ He I (21.2 eV) และ He II (40.8 eV)
- Ion gun etching สามารถวิเคราะห์ด้วยเทคนิค Depth profile
- วิเคราะห์ตัวอย่างที่เป็นผง ฟิล์ม เม็ด
แบบฟอร์มสำหรับส่งตัวอย่างวิเคราะห์ ***ผู้ใช้บริการเครื่องมือจะต้องกรอกแบบฟอร์มดังกล่าว และแนบมาพร้อมการส่งตัวอย่าง
https://kku.world/sh7t84

ที่อยู่สำหรับการจัดส่งตัวอย่างวิเคราะห์
งานวิจัยและบริการวิชาการ
คณะวิทยาศาสตร์มหาวิทยาลัยขอนแก่น 123 ต.ในเมือง อ.เมือง จ.ขอนแก่น 40002
(ตัวอย่างวิเคราะห์ XPS)

หมายเหตุ: ค่าวิเคราะห์ข้อมูลตัวอย่างละไม่เกิน 3 ธาตุ หากเกินคิดเพิ่ม 500 บาท/ธาตุ

สถานที่ตั้ง

ห้อง 1137 ชั้น 1 อาคาร SC.01 คณะวิทยาศาสตร์ มหาวิทยาลัยขอนแก่น

เจ้าหน้าที่ผู้ดูแล/ติดต่อขอใช้บริการ

กุณช์ธยาน์ ราชพลแสนวงศ์ โทรศัพท์ : 087-0680025 อีเมล : phikra@kku.ac.th

พรรณธิวา เพชรผดุง โทรศัพท์ : 0807448121 อีเมล : pantka@kku.ac.th

อัตราค่าบริการ

ปฏิทินการใช้งาน